最新研究成果揭示，由英國和新加坡科學家合作推出的一種非侵入性光學測量方法，可以檢測納米物體位置并達到原子級分辨率，比傳統顯微鏡高出數千倍。
該研究成果于最新一期《自然 · 材料學》雜志上刊發。這一技術讓科學家能夠以十億分之一米的比例表征現象和系統，開辟了一個新的皮光子學研究領域，并爲其他領域的研究提供了令人興奮的新可能性。
對于皮光子學來說，這一新的非侵入性光學測量方法将是一個重要的切入點，科學家可以在納米和原子級别上研究光的交互作用，并可以使用一種特殊類型的光學陷阱對納米和分子進行控制，以了解它們的相互作用和特性。
這個新技術的關鍵在于納米探針的使用。這種探針通過采用特殊的光學和電子技術，可以在非常小的範圍内對原子和分子進行操縱和測量。這就允許科學家在納米尺度上進行高精度的測量，以了解物質的微觀特性。
這種測量方法具有多種優點。首先，這是一種非侵入性方法，不會對樣品本身造成任何傷害或變化。同時，該方法具有非常高的靈敏度和分辨率，可以在微弱光信号的情況下檢測樣品移動和變化。此外，這項新技術還可以減少人爲測量錯誤的風險，從而提供更爲準确的數據。
這一研究成果爲未來的科學研究提供了廣泛的應用和可能性，例如在納米電子學、表面化學、化學生物學和材料科學等領域。科學家們預計未來幾年内可以将這一技術用于更多領域的研究，從而使人類對物質世界的認知達到一個新的高度。
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